Стр. 71 - 2

Упрощенная HTML-версия

Освещенность поверхности складывается из освещенности, создаваемой точечным
источником света, и фоновой освещенности
Еф,
поэтому выражение 11.8 изменится:
Ф
Е + Е ,
= — .
(11.13).
Ф
s
С учетом фоновой освещенности сила света точечного источника запишется в виде:
I =
{— -
Е . )R
2 .
k S
ф
(1114)
В лабораторной работе фоновая освещенность не учитывается.
Внешний вид установки, используемой в лабораторной работе, представлен на рисунке 11.5.
Рисунок 11.5. Внешний вид установки для определения силы фототока
Установка состоит из оптической скамьи 1, в которой находятся вентильный фотоэлемент 2
и лампа накаливания 3. Ток, возникающий в фотоэлементе при его освещении, измеряется
микроамперметром 4. Лампа накаливания закреплена на держателе 5 и включается в сеть с помощью
источника питания 7. Расстояние между лампой (держателем) и фотоэлементом определяется по
линейке 6, расположенной в нижней части откидной крышки оптической скамьи.
Во время выполнения лабораторной работы откидная крышка оптической скамьи должна
быть закрыта.
Порядок выполнения работы
1.
Включите источник питания в сеть. Установите лампу накаливания на такое расстояние от
фотоэлемента, при котором наблюдается максимальная сила фототока по шкале микроамперметра.
Измерение проведите 6 раз, увеличивая каждый раз расстояние
R
между фотоэлементом и лампой
на1 см.
71